由一个完全整合的系统控制全部的实验

通过系统各个部分的完全整合，用户可以通过一个界面控制全部的实验。专门的应用向导快速和方便地提供可重复的实验结果。高度的自动化，提供了新的记录策略。在线SMD数据显示和交互反馈，保证了数据质量的严密控制。

即时的光谱和寿命信息－结合了更强大的能力

结合SP8X与光谱FLIM检测，构成了可调节的，无光学滤片的FLIM系统。通过可调节激发光和优化光谱范围检测，可以得到最高质量的FLIM数据。利用方便的SMD FLIM向导，可以自动获得FLIM激发和检测堆。这对于分离多色样品的荧光分离以及新染料的特征描述是非常有用的。

快速的结果 － 更好的数据可靠性

在线显示重要的统计控制参数，如相关曲线、快速FLIM图像、计数率、分子亮度或最大分子计数数量，能在运行FCS或FLIM实验过程中，连续评估数据质量。SMD数据可以在测量系列过程中就得到解释。

在SMD检测中具有最大灵活性

由于通用的SMD原始数据格式，同一个数据文件可以有不同的分析方法。根据硬件和实验设计，相关和寿命信息可以从一个单独的测量中提取出来，得到有关样品的最大信息。FCS系统可以升级配备FLIM，反之也可以，可以达到最大灵活的的FLCS配置。